總覽

　　TSL-770 凝聚了 Santec 三十多年的經驗和知識，是一款操作靈活且適合廣泛應用的高規格的可調諧激光器。重新設計的激光腔體與噪聲的電路基板相結合，可在 同一激光器中實現市場領xian的掃描速度、高輸出功率、寬 調諧范圍、低噪聲以及窄線寬。創新的專用腔體設計增強 了 Q 因子和波長穩定性，即使在的研究應用中也能夠實現測量。

　　特點

　　極寬的可調諧范圍：1480-1640nm

　　全波段無跳模波長連續可調

　　高速：高達 200nm/s 的波長掃描

　　高輸出功率：+13dBm

　　高信噪比：90dB/0.1nm

　　高波長精度：0.3pm ( 典型值 )

　　窄線寬：<60kHz

　　應用

　　光學元件 & 光子材料表征

　　光纖傳輸測試( 載波 LD、本地振蕩器等 )

　　干涉測量、光譜學、計量學( OFDR、氣體傳感器、太赫茲生成等 )

　　技術 & 典型性能

　　一,寬調諧范圍

　　TSL-770 采用 Littman-Metcalf 配置以實現 160nm 范圍的無跳模調諧。

　　驅動機構堅固耐用，可確保長期使用的性能，并且被隔離開來以消除激光器中的聲學和機械噪聲

　　二,高信噪比、高功率

　　采用創新的外腔設計，以降低光學 SSE 噪聲，實現擁有90dB/0.1nm 的超高信噪比的同時 , 依然能夠保持高達

　　+13dBm 的高功率輸出。TSL-770 是下一代高動態范圍濾波器和波長選擇開關 (WSS) 組件測試的理想選擇。

　　三,內置高性能波長計

　　TSL-770 內置有波長精度為 +/-2 pm 高精度波長計，并可在連續掃描模式下存儲（記錄）波長數據。

　　四,窄線寬和低抖動

　　通過將光學腔與機械振動分離，使激光腔中的 Q 值得以化。這使得 TSL-770 具有超窄激光線寬和市場領xian的波長穩定性。

　　五,快速掃描技術

　　Santec 先進的光學機械設計可實現高達 200nm/s 的快速掃描， 且具有高精度和高重復性。加速和減速的周期被最小化，以進一步減少重復掃描的測量時間。

規格

　　* 所有的規格參數測量前均需要 1 個小時以上的設備預熱。規格適用于水吸收波長范圍以外的波長。

　　*1: 在靜態狀態或步進掃描模式下。

　　*2: 在溫度變化 ± 0.5℃以內。

　　*3: 使用 “Auto” 功率模式。

　　*4: 使用輸出功率。

　　*5: STSSER 信號波長 ±15nm 范圍內的全自發輻射光輸出的比 ( 典型值 )。

　　*6: SSSER 信號除去中心波長 ±1nm 的范圍，中心波長輸出和其 ±3nm 的范圍內的自發輻射光輸出值的比 ( 典型值 )。

　　*7: 偏振軸與連接器對齊。偏振消光比為 17 dB ( 典型值 )。

　　*8: 指標保證范圍從起始到 1630nm。

　　*9: 突出部分除外。

　　TSL-770 內置一個功率監視器，可用于實時補償輸出功率的波動 , 無需使用光功率參照，這樣減少了測試系統中所需功率計的數量。TSL-770 與 Santec 的功率計 MPM-210H、偏振控制器PCU-110 搭配，可為用戶提供一個 WDL 或 PDL 測試的完整的解決方案。Santec 提供整套系統的控制軟件以及動態鏈接庫 (DLL)，并支持使用各種編程語言進行系統集成和控制。