由日本檢測儀器制造商協會 （JIMA） 精心打造，為 CT 和 X 射線系統提供最先進的校準。它們可提高各種分辨率下的成像精度，對于高質量的掃描和檢查至關重要。

日本JIMA RT CT-01B CT分辨率測試卡采用最先進的半導體工藝技術，采用金 (Au) 吸收材料開發了一種新的 CT 分辨率圖，適用于從 3 微米到 7 微米的 5 種不同尺寸的線和空間。這是檢查 Microfocus X 射線 CT 掃描系統

性能的非常有用且不可或缺的工具，也可用于校準、設置、維護、日常對準等。