涂層厚度的測量方法主要有:楔形切割法、光切法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線熒光法、β射線背散射法、電容法、磁性測量法和渦流測量法。這些方法的前五種都是破壞性檢測，比較繁瑣，速度慢，大多適合抽樣檢驗。

　　Ux-720儀器標配設備參數。

　　1.計算機

　　CPU:英特爾雙核內存:2G

　　硬盤:500G顯示器:19英寸

　　2.噴墨式打印機

　　彩色噴墨打印機

　　3、儀器附件及技術數據

　　50片測試膠片

　　五個保險管

　　保修卡。

　　批準證書

　　儀器操作手冊

　　輻射安全檢查報告

　　x射線和β射線法為非接觸式無損測量，測量范圍小。x射線法可以測量極薄的涂層、雙層涂層和合金涂層。β射線法適用于原子序數大于3的涂層和鍍層的測量。電容法僅在測量薄導體的絕緣涂層厚度時使用。

　　隨著科技的發展，特別是近年來微機技術的引入，X射線涂層測厚儀的使用向著小型化、智能化、多功能、高精度和實用化邁進了一步。測量的分辨率達到了0.1微米，精度可以達到1%，有了很大的提高。由于其應用范圍廣、測量范圍寬、操作簡單、價格低廉，在工業和科研中得到廣泛應用。